Pomimo niewątpliwych zalet dwuwymiarowyvh dielektryków, wdrożenie tych materiałów w tranzystorach okazuje się na razie trudne. Wynika to z braku wiązań, co powoduje, że trudno jest je osadzać na materiałach, w wyniku czego powstają nieciągłe filmy.
Zespół badaczy z Nanjing University w Chinach przedstawił ostatnio metodę, która pozwala to skutecznie robić. Opisują oni udane osadzenie metodą ALD dielektrycznych bramek na półprzewodnikach 2-D wykorzystujących jako warstwę zaszczepiającą kryształ molekularny.
Dielektryki zaproponowane przez naukowców wykazują zmniejszoną szorstkość, gęstość stanów faz pośrednich i przeciek w porównaniu z tymi wytwarzanymi przy użyciu bardziej konwencjonalnych metod. Co ciekawe, prezentują również ulepszone pole podziału.
Półprzewodniki 2-D mogą znaleźć szerokie zastosowanie, gdyż wykazują bardzo wysoką mobilność przy ekstremalnych grubościach, co czyni je szczególnie obiecującymi alternatywami dla krzemu.
(KB)
Kategoria wiadomości:
Nowinki techniczne
- Źródło:
- techxplore.com; newsbreak.com
Komentarze (0)
Czytaj także
-
Magazynowanie lub komplementarne wykorzystywanie energii elektrowni wiatrowych
W związku z problemem zmiennej siły wiatru rodzi się pokusa, aby energię uzyskaną w okresach wietrznych przechowywać do wykorzystania w okresach...
-
Badanie strat w przewodach wysokiego napięcia: metody i techniki diagnostyczne
Badanie strat w przewodach wysokiego napięcia jest kluczowym elementem utrzymania sprawności i bezpieczeństwa systemów elektroenergetycznych....