Nowa metoda badania tranzystorów

Nowa metoda badania tranzystorów

Naukowcy z Uniwersytetu w Twente opracowali metodę, która pozwala analizować wady pojedynczych tranzystorów. Chipy komputerowe składające się z ogromnej liczby tranzystorów zawierają miliardy drobnych niedoskonałości, których wcześniejsze wykrycie pozwoliłoby zwiększyć ich wydajność.

Dotychczas istniały techniki ich analizowania jedynie dla układu globalnego. Jednak badania prowadzone przez holenderskich naukowców poszerzają możliwości diagnostyczne. W odpowiednim czasie wiedza ta odegra bardzo istotną rolę w dalszym rozwoju przemysłu półprzewodników.

Chipy komputerowe zazwyczaj zawierają bardzo wiele maleńkich wad. Są to często nawet dziesiątki miliardów defektów na centymetr kwadratowy. Większość z tych wad w praktyce nie powoduje problemów z działaniem elektroniki, ale ich duża kumulacja stanowi ogromne wyzwanie dla przemysłu.

Jest to tylko jedna z barier, którą naukowcy muszą pokonać w celu prowadzenia dalszej miniaturyzacji układów z wykorzystaniem istniejących technologii. Szczegółowa wiedza na temat procesów ich powstawania oraz lokalizacji i zachowania wydaje się więc być niezwykle istotna.

Zespół badaczy kierowany przez dr Florisa Zwanenburga opracowała chipy zawierające jedenaście elektrod. Grupa dziesięciu elektrod o szerokości 35 nanometrów została położona prostopadle w stosunku do jednej 80-nanometrowej. Aktywując poszczególne z nich w temperaturze -270 stopni Celsjusza, udawało im się wykrywać nieregularny przepływ elektronów, co wskazywało na fakt, że konkretna elektroda posiada ukrytą wadę.

W kolejnym kroku badaczom udało się zneutralizować ponad osiemdziesiąt procent wad poprzez ich nagrzewanie do temperatury 300 stopni Celsjusza w piecu wypełnionym argonem. Dr Zwanenburg uważa, że natura poszczególnych niedoskonałości ma ogromne znaczenie, ponieważ pozwoli poprawić rozumienie problemów współczesnej elektroniki.

(rr)